Введите подробные характеристики товара (например, цвет, размер, материалы и т. д.) и другие конкретные требования, чтобы получить точную цену.
оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
1

Полупроводниковый металлургический измерительный микроскоп для контроля качества корпусов интегральных схем.

HY-TM200 Полупроводниковый металлургический измерительный микроскоп Система сочетает в себе оптическое наблюдение, цифровую обработку изображений и высокоточные измерения. Она поддерживает контроль в светлом и темном поле с точностью позиционирования до ±0,1 мкм. Система подходит для измерения золотых шариков, проволочных петель, корпусов микросхем, печатных плат и других электронных компонентов в приложениях контроля качества и НИОКР.

  • Бренд :

    HYRNUS
  • Номер изделия. :

    HY-TM200
  • Минимальный объем заказа (MOQ) :

    1 Set
  • Гарантия :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Оплата :

    T/T
  • Время выполнения :

    7-35 Days
  • Происхождение продукта :

    China
  • Полупроводниковый металлургический измерительный микроскоп для контроля качества корпусов интегральных схем.

     

    Введение в продукт

    HY-TM200 Полупроводниковый металлургический измерительный микроскоп Предназначен для высокоточной проверки и измерения размеров полупроводниковых корпусов, интегральных схем, печатных плат и электронных компонентов. Объединяет функции оптического наблюдения, цифровой обработки изображений и измерения в одной компактной системе для лабораторного и производственного применения.

    Благодаря бесконечной оптической системе, режимам наблюдения в светлом и темном поле, а также высокоразрешающей промышленной ПЗС-матрице, микроскоп обеспечивает четкие изображения и точные результаты измерений. С точностью позиционирования до ±0,1 мкм и множеством функций измерения, включая длину, угол, радиус и высоту, он хорошо подходит для контроля качества полупроводников, анализа отказов и НИОКР. Для удовлетворения различных требований к контролю доступны специальные приспособления.

     

    Технические характеристики изделия

    ЭлементПодробности
    МодельHY-TM200
    Размеры700 x 800 x 800 мм
    Масса85 кг
    Размеры стекла230 x 160 мм
    Размеры сцены358 x 258 мм
    Диапазон перемещения200 x 100 x 150 мм
    Разрешение масштаба решеткиОсь Z:±0,1 мкм по осям XY:±0,5 мкм (опционально)±0,1 мкм)
    Оптическая системаОптическая система с бесконечным фокусным расстоянием
    Тип движенияРуководство
    Цели5X, 10X, 20X, 50X
    Окуляр10X
    Поле зренияПеревернутое изображение
    Методы наблюденияРежимы светлого и темного поля, свободно переключаемые.
    Поверхностный/нижний источник света3 Вт светодиодная коаксиальная подсветка
    Точность позиционирования по осям XYZ±0,1 мкм
    Повторяемость XYZ±0,1 мкм
    Точность измерений XY(3 + L/100) мкм (L = измеренная длина)
    Точность измерения Z(3 + L/25) мкм (L = измеренная высота)
    Функции отображенияВыход RS232, обнуление/центрирование по осям XYZ, преобразование дюймовых/метрических единиц, калибровка точности.
    Контроллер оси ZВысокоточное соосное колесо для управления вертикальным перемещением
    Точность позиционирования по оси Z±0,1 мкм
    Рабочее напряжениепеременный ток 220 В
    Номинальная мощность100 Вт

     

    Основные функции

    Нет.Подробности
    1Измерение диаметра золотого шарика (измерение длины)
    2Измерение толщины золотого шарика (измерение угла)
    3Измерение дуги золотой проволоки (измерение радиуса)

     

    Преимущества

    ЭлементПодробности
    Универсальные оптические компонентыСовместим с отечественными и импортными оптическими компонентами, поддерживает режимы светлого поля, темного поля, дифференциально-интерференционного контраста (ДИК), поляризации и эпифлуоресценции.
    Цель - БашняМожет вмещать до 5 объективов с увеличением 5X, 10X, 20X, 50X и 100X для удовлетворения различных требований к применению.
    Система визуализацииОснащен промышленной цветной ПЗС-камерой, которая захватывает высококачественные изображения через зум-объектив, преобразует их в электронные сигналы и передает на компьютер для анализа.
    Эргономичный блок отображения данныхПредназначен для автономной работы с регулируемым углом наклона, что позволяет проводить измерения в положении стоя или сидя. Поддерживает функции обнуления и центрирования для высокоточной калибровки.
    Прецизионный винтовой приводИспользуется винтовой и гайковый привод из нержавеющей стали, обеспечивающий быструю и точную регулировку для повышения эффективности измерений. Стабильная конструкция снижает вибрацию платформы и обеспечивает более точное позиционирование.

     

    Подробная информация о товаре

    Metallurgical Measuring Microscope

    Semiconductor Inspection Microscope

оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.

оставить сообщение

оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
Связаться с нами :allen@hyrnus.com