HY-TM200 Полупроводниковый металлургический измерительный микроскоп Система сочетает в себе оптическое наблюдение, цифровую обработку изображений и высокоточные измерения. Она поддерживает контроль в светлом и темном поле с точностью позиционирования до ±0,1 мкм. Система подходит для измерения золотых шариков, проволочных петель, корпусов микросхем, печатных плат и других электронных компонентов в приложениях контроля качества и НИОКР.
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ
оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
