Автоматизированная машина для тестирования и сортировки KGD для автоматизации производственных процессов.

Тестирование и сортировка микросхем на уровне кристалла; подходит для SiC и других мощных, высоконадежных и высокопроизводительных устройств.

Поддерживает определение характеристик надежности: UIS до 3 кВ, SC до 3000 А.

Поддерживает статические испытания до 3 кВ / 600 А (напряжение / ток).

Поддерживает динамические испытания до 2 кВ / 1500 А (напряжение / ток).

Инновационная архитектура обработчика и тестировщика для повышения эффективности; комплексная производительность до 4 тыс. запросов в час (в зависимости от требований заказчика и содержимого тестов).

Низкая паразитная индуктивность и низкое контактное сопротивление обеспечивают чистые и надежные сигналы для повышения точности тестирования: - Паразитная индуктивность тестовой петли: < 50 нГн - Сопротивление контакта кристалла: < 10 мОм

Технические характеристики

Элемент	Спецификация
Имя	Машина для тестирования и сортировки KGD
Поддерживаемые продукты	SiC без кристалла
Форматы ввода	Вафельная бумага (6/8/12 дюймов), лента и катушка, лоток на заказ.
Диапазон размеров чипов	2 мм × 2 мм – 8 мм × 8 мм
Толщина стружки	80 мкм – 600 мкм
Индексное время	< 700 мс (параллельно с тестовым режимом)
Индуктивность паразитных колебаний в тестовой петле (двухкристальная)	< 50 нГн
Контактное сопротивление	< 10 мОм
Параллельное тестирование на нескольких площадках	Поддерживается
Основные тестовые элементы	Динамический, статический, UIS, SC и т. д.
Тестовая среда	Температура окружающей среды / Высокая температура
Диапазон температур	От комнатной температуры до 200 °C
Температурная стабильность	±2°C при 3σ, разрешение 0,1°C
Защита продукции	Защита от воздействия азотной атмосферы
Точность позиционирования при размещении	±25 мкм при 3σ
Точность углового размещения	±0,5° при 3σ
Габариты оборудования	3100 мм (Д) × 1400 мм (Ш) × 1900 мм (В)

Подробная информация о товаре