Введите подробные характеристики товара (например, цвет, размер, материалы и т. д.) и другие конкретные требования, чтобы получить точную цену.
оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
1

Высокопроизводительная машина для контроля качества проволочного соединения и внешнего вида микросхем.

Аппарат HY-BI300P Aoi оснащен Оборудование для полномасштабного контроля качества в 2D+3D-формате после упаковки полупроводников позволяет выявлять все дефекты в проволочном соединении (золотое/алюминиевое) и внешнем виде микросхем.

 

  • Бренд :

    HYRNUS
  • Номер изделия. :

    HY-BI300P
  • Минимальный объем заказа (MOQ) :

    1 Set
  • Гарантия :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Оплата :

    T/T
  • Время выполнения :

    7-35 Days
  • Происхождение продукта :

    China
  • Высокопроизводительная машина для контроля качества проволочного соединения и внешнего вида микросхем.

    Введение в продукт

    Машина для проверки внешнего вида микросхем и проволочного соединения HY-BI300PПодходит для автомобильной электроники, промышленного оборудования, бытовой электроники и других областей применения, обеспечивая 100% полную проверку и отслеживаемость данных, помогая предприятиям по упаковке и тестированию повышать производительность, снижать затраты и повышать эффективность.

    Сценарии применения

    Высокотехнологичная 3D-конфигурация для сложных и высокотехнологичных производственных линий: используются две камеры для раздельного проведения высокоточной 2D-инспекции и высокоскоростной 3D-инспекции.

    Подходит для производственных линий с крупногабаритными носителями, глубокими полостями и более строгими требованиями к высоте проволочных петель и морфологии золотых шариков, например, для высокопроизводительных устройств памяти, TR-устройств, силовых устройств и т. д.

    Основные алгоритмические и эксплуатационные характеристики

    Алгоритмы облака точек преодолевают сложности визуализации в сценариях с перекрещенными проводами и большой глубиной резкости. Двухрежимная 2D+3D инспекция позволяет 2D-сканированию охватывать все дефекты внешнего вида, а 3D-сканирование точно измеряет высоту проволочных петель для соответствия строгим стандартам контроля качества высококачественной продукции. Благодаря многослойному получению изображений и оценке дефектов на основе процентного содержания ширины провода, система разблокирует канал передачи данных и формирует замкнутый цикл управления процессом: «инспекция в реальном времени – точный анализ – оптимизация процесса».

    Многоканальный RGB-источник света

    Технология многоканального слиянияoptical inspection equipment

    Алгоритм извлечения золотой проволоки


    Высокоскоростная съемка полета

    Синтез сверхглубокой фокусировкиaoi test

    Высокоточная 3D-инспекция


    Программирование с использованием ИИautomated optical inspection


     

    Результаты проверки: Пересмотр решенияментaoi machine

    Характеристики продукта

    Перекрестное короткое замыкание, ненормальная проволочная петля, обрыв провода, смещение шарика из золота/алюминия, холодное соединение, неравномерный диаметр провода.

    Царапины на поверхности, сколы, посторонние частицы, остатки клея, трещины, некачественная маркировка.

    Окисление подложки, загрязнение, отклонение размеров

    Решает проблемы, возникающие при однослойной проверке перекрестных соединений.

    Поддерживает многослойные алгоритмы и обнаружение дефектов в процентах от ширины проволоки.

    Значительно превосходит традиционную технологию линейного 3D-сканирования по точности и частоте кадров.

    Поддерживает автономное производство в офлайн-режиме или в поточной линии.

    Разработанный нами алгоритм облака точек + технология сверхглубокого изображения для контроля внешнего вида проволочных соединений и кристаллов в условиях перекрестного соединения проводов и сверхбольшой глубины резкости.

    Портативный и удобный интерфейс с пошаговым программированием.

    Основные характеристики

    ЭлементСпецификация
    Разрешение в пикселях3,2 мкм
    Точность 2D-контроля±2 мкм
    Полная проверка100%
    Измерение высоты петли±10 мкм
    Разрешение 2D-пикселей2,5 мкм
    Двумерное поле зрения (FOV)10 мм × 10 мм
    Разрешение 3D-пикселей3,2 мкм
    Трехмерное поле зрения (FOV)22 мм × 22 мм
    Глубина резкости200 мкм
    Совместимые размеры изделия50~300 мм (Д) × 50~300 мм (Ш) × 0,1~30 мм (В)

    Технические характеристики параметров

    ЭлементПараметр
    Название оборудованияМашина для визуального контроля проволочных соединений и кристаллов.
    МодельHY-BI300P
    Точность 2D/3D2D: 2,5 мкм
    3D: 3,2 мкм
    Поле зрения2D: 10 мм × 10 мм
    3D: 22 мм × 22 мм
    Обнаруживаемые дефекты паяных соединенийШирина дефекта ≥ 3 пикселя, контрастность ≥ 30 бит: отсутствие склеивания, смещение склеивания, размер склеивания, толщина склеивания, дефект в виде мяча для гольфа.
    Обнаруживаемые дефекты проводовДефект шириной ≥ 3 пикселя, контрастностью ≥ 30 бит: неправильное соединение проводов, отсутствие провода, обрыв провода, смещение провода (извилистая форма), повторное соединение, провисание провода (горизонтальное), перемычка из провода, лишний хвостик, провисание провода (вертикальное), высота петли провода, расстояние между перекрестными проводами.
    Обнаруживаемые дефекты кристаллаДефект шириной ≥ 3 пикселя, контрастностью ≥ 30 бит: скол кристалла, вращение кристалла, отсутствие кристалла, трещина кристалла, чернильное пятно, смещение кристалла, царапина, загрязнение посторонними материалами, покрытие эпоксидной смолой, наклон кристалла.
    Размер субстрата50~300 мм (Д) × 50~300 мм (Ш) × 0,1~30 мм (В)
    Габариты оборудования1400 × 1550 × 1750 мм
    Масса1500 кг ± 5%
    Номинальная мощность2,5 кВт

    Пункты проверки

    Обрыв проводаПропавший залогЦарапиныНесоосность / Угловое отклонение
    Связывание проводовСмещение контактной площадкиВзломИзлишки серебряного клея/эпоксидной смолы
    Обрушение проводовНенормальный диаметр шараОкислениеСколы
    Аномальная дуга проволочного разрядаДефекты внешнего вида микросхемыЗагрязнениеОтсутствует чип
    Подробная информация о товаре

    automated optical inspection systems

оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.

оставить сообщение

оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
Связаться с нами :allen@hyrnus.com