HY-TH820 TСортировщик уррет Это интегрированная система тестирования в виде поворотной платформы, предназначенная для проведения окончательного тестирования полупроводниковых компонентов, в частности, для корпусов типов DFN0603, DFN0606, DFN1006, DFN1010 и DFN1107.
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ
оставить сообщение
Если вас заинтересовала наша продукция и вы хотите узнать больше подробностей, пожалуйста, оставьте сообщение здесь, мы ответим вам как можно скорее.
